半导体测试联盟发布开放式测试架构

半导体测试联盟(The Semiconductor Test Consortium Inc., STC)最近向外界宣布了开放式测试架构规范的第一个草案版本OpenSTAR。
半导体测试联盟成立于2002年，最初由日本自动测试设备(ATE)厂商Advantest公司发起，据称当初是出于对日益复杂的SOC系统和不断攀升的测试成本考虑。尽管得到了芯片制造商和第三方ATE经销商的支持，但由于其他主要ATE厂商对此建议持怀疑态度，并没有采用这种单一平台的概念，有关该测试联盟的争论也一直没有停止。
但如今，情况已经大有改观，STC已经包括30多个成员公司，其中不乏半导体行业巨头Intel和 Motorola等。据STC估计，目前该联盟的成员已经占全球总逻辑芯片和SOC自动测试设备市场超过50%。 STC董事会副主席，Advantest公司美国分部销售副总裁Sergio Perze表示，除了SOC的测试之外，STC也在考虑其他低成本的MCU、MPU和RF测试。另外STC也在努力解决不断增长的可测试设计(Design for Test, DFT)问题，本次发布的开放式测试架构平台即包括一些DFT模块。他认为，用户已经做好准备拥有这样的测试平台方案。
加入STC的芯片制造商表示，采用这一测试平台具有相当大的成本优势，但由于STC的影响范围有限，还谈不上使整个半导体工业受益，STC的目标是让产业链中更多的ATE厂商采用该平台。目前加入STC的ATE厂商已经有20个左右，除National Instruments Corp.外，基本上都是一些规模不大的设备制造商。STC的条款明确规定，无论是芯片制造商还是ATE厂商、经销商，在没有得到正式允许之前，不得向外界透露这些公司的名称。
Sergio Perze表示，除了Intel、Motorola和National Instruments Corp.等几个已经明确的公司外，其他成员来自美国、欧洲、日本和中国台湾等地，对于其他公司加入，STC的大门永远是敞开的。联盟内的芯片制造商也在和自己的ATE客户商讨加入该联盟的可能性。Sergio Perze坦言，对于任何ATE厂商这都是一个痛苦的过程，各个厂商拥有自己的知识产权(IP)或专利，而这些技术已经被客户所认同和熟知，一旦面对开放的测试平台，许多厂商都会有一种非常不情愿的心理。
STC执行经理Fred Bode表示：“在开始倡导一项新的标准时，大家的第一反应往往是怀疑。但STC目前已经度过了这个时期。STC已经发布了第一个规范，所有成员都提出了自己的疑问，这些问题得到了技术委员会很好的解决。”
据介绍，在广泛听取意见的基础上，STC建立了一个开放式的ATE框架，允许第三方仪器模块和测试软件以“即插即用”的方式实现互操作性，而这些硬件和软件一般都包括各个公司专有的知识产权。
OpenSTAR规范的第一个版本界定了该架构的主要技术特征，包括软件、硬件、接口和集成特征等。除了OpenSTAR规范，STC还发布了软件、硬件开发包的第一版本，并公布了未来产品验证程序发布计划，以及开始软、硬件开发支持服务的时间表。
OpenSTAR规范的第一版本要求主框架平台应由48伏直流电源供电，而和各个模块之间的通信则结合使用光纤和PCI接口实现。另外，STC已经成立了几个技术委员会将被测器件接口的数量大幅削减，最后可能只剩下少量几个。
软件方面的问题可能要多一些，其中一个重要的任务是界定一个操作系统，能够得到性价比很高的吞吐量，同时保持可扩展性和模块化，以“即插即用”的方式和软件模块接口。
STC预期今年夏末将有一些基于该平台的硬件产品问世，该平台规范的下一个版本将在今秋发布。 ()