近日 Agilent公司（NYSE:A）宣布它的Pro系列软触无连接器逻辑分析仪探头接口已被逻辑分析仪厂商采纳为工业标准。这种基于Agilent软接触无连接器探测技术的标准接口是在公共覆盖区中排列的探头连接盘阵列，它可用多家厂商的设备进行探测。现在，计算机、半导体和通信行业的工程师将能得益于这种无连接器探测，而不再需要选择相竞争的无连接器探头接口。 这种新的Agilent Pro系列软触无连接器逻辑分析仪探头的覆盖区要比原先的软接触探头小30%。该Pro系列探头采用与先前型号相同的专利微弹簧引针技术，以提供业内最可靠的性能。Agilent微弹簧引针技术采用4点冠状触针，它能穿透电路板上的任何污染物，并提供冗余两个以上的接触点，实现最高的可靠性。这种新的、易于使用的顶端固定模块可适应不同的电路板厚度。这些探头是兼容适用于有机覆铜这样的无铅覆层——支持电子工业向无铅产品化过渡的产品，如有机覆铜这样的无铅覆层，以及同时适用于常用的金、银和热风表面处理其它覆层，包括金、银和热风表面处理的唯一一种逻辑分析仪探头。这在业内是唯一的。 Agilent设计验证部副总裁兼总经理Ron Nersesian说：“我们的客户已经认识到软触无连接器探头可靠性、易用性和空间节省所带来的好处，但也反映缺乏标准无连接器逻辑分析仪接口所造成的麻烦。Agilent经验证的软触探头技术从推出以来已被业内广泛接受，并成为新的公共接口技术。我们在开发这一新标准中与客户及其他逻辑分析仪厂商有着密切的协作。” Agilent软触探头能实现探头与印制电路板上目标的直接连接，而不需要使用连接器。这就减小了电容性负载，也把探头对系统性能的影响减到最小，这是工程师使用今天高速技术，如双数据率（DDR）和PCI Express开发产品中的重要考虑。无论被测信号速度如何，都无需在目标上放置连接器，从而简化了设计的验证工作，尤其是那些空间紧凑或要求最小信号干扰的设计信号路由设计的验证。 Agilent的全部逻辑分析仪产品线是能提供都支持全部逻辑分析仪产品线无连接器探测，这是业内的唯一厂商。E5404A软接触探头测量单端数据和时钟，可由供任何带40针电缆连接器的Agilent逻辑分析仪使用。E5405A探头支持差分数据和时钟，E5406A支持单端数据和差分时钟，这两种探头都可由供任何带90针电缆连接器的Agilent逻辑分析仪使用。
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