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美国THEMOR荧光测厚仪


美国THEMOR荧光测厚仪:
-射线金属镀层测厚仪 世界首创光学准直器,光束最少可达0。025mm 集中X-射线光束,强度加强5-8倍适合较薄镀层测量,测量时间为正常的1/5 配有ZOOM功能,图像可放大到最高200倍更新FP方法,适合多层厚度测量 ()
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