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X荧光光谱仪 |
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产品信息
针对RoHS检测设计开发
测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
也可以测量镀层厚度
ROHS指令检测主要技术指标
※. 测量元素:从硫至铀等 75 种元素
※. 元素含量分析范围:1ppm-99.99%
※. RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)
※. 检测限最高达 1ppm
※. 测量时间: 60-300s
※. 能量分辨率为： 160±5eV
※. 高压：5-50kV
※. 管流：50-1000uA
※. 温度适应范围： 15-30℃
※. 电源：交流 220±5V（建议配置交流净化稳压电源）
※. 重量：60kg
※. 自动选择滤光片
※. 多种准直器自动自由切换
※. 电制冷硅针半导体探测器
※. 加强的金属元素感度分析器
※. 三重安全保护模式
※. 相互独立的基体效应校正模型
※. 多变量非线性回归程序
※. 任意多个可选择的分析识别模型
※. 一次可同时分析 24 个元素析
仪器基本配置
※.信噪比增强器
※.自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品
※.独特的光路增强系统，方便用户更好地观察样品
※.测量 RoHS，电镀镀层，全元素分析，一机多用
※.电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷
※.特别开发的测量软件，操作界面十分友好
※.内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品
※.精准的移动平台，更精确方便地调节样品位置
※.高贵时尚的外型，带给您全新的视觉冲击
※.样品腔尺寸：605mm*395*100mm () |
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