Silicon LabS推出直接传感器接口技术》及本站其它信息均来自网络!
行业新闻技术文章解决方案电路图产品库厂商库供应信息求购信息外刊文摘
 技术文章 -> PCB电源单片机DSP设备与仪器EDA放大/转换存储器嵌入式接口与连接通讯与网络模拟技术其它技术文章
 解决方案 -> 汽车电子光电与显示测试测量计算机与外设仪器仪表通讯与网络视像设备消费电子工业控制其它解决方案
 产 品 库 -> 存储器嵌入式单片机电源通讯网络接口电路DSP视频音频EDA/PLD显示光电电测仪表传感与控制其它产品
 首页 -> 产品大全 -> 传感与控制 -> 正文

Silicon LabS推出直接传感器接口技术

 

    Silicon Laboratories公司于今天公布了直接传感器接口技术(DSiT™)。该项技术允许设计者将传感器和变频器发出的无条件、无补偿、未经过处理的输出信号连接至Silicon Laboratories的C8051F350系列单片精密混合信号微控制器(MCUs),从而开发出真正的智能传感系统。为了展示此技术,Silicon Laboratories开发出一款基于C8051F350的全电子指南针参考设计,以便客户通过实际应用来评估DSiT的功能。

    Silicon Laboratories开发出的具备DSiT性能的数字指南针参考设计是一个倾斜补偿的多轴电子指南针,演示了磁传感器发出的微弱信号如何不经过其它测试电路直接连接到C8051F350。Silicon Laboratories的这项技术提供了一个获取和控制数据的单片解决方案,可用于要求精密测量、高速数据处理和空间有效性的场合,非常适合用于传感器、传感系统、工业处理控制、科学仪器、测试和测量、医疗设备、建筑自动化、HVAC、智能发射装置以及秤。

    Silicon Laboratories的DSiT性能集成了测试系统所有必需的要素,包括一个多路转接器、一个偏调数字/模拟转换器 (DAC)、一个可编程序增益放大器、一个比较器、一个24位sigma-delta数字/模拟转换器 (ADC)、一个单板基准电压、一个可编程序数字滤波器和多个电流控制DACs。上述每项特征都有其特殊功能,既提供了传感器接口,有提供了终端用于应用程序,从而保持特征和集成之间的平衡。  


 

()
Google
 >> 最近更新
 • 揭开PCB最后表面处理之迷
 • 微波半导体功率器件及其应用
 • 封装器件的高速贴装技术
 • 液晶显示器花屏故障的排除
 • 倒装芯片的底部填充工艺
 • 常用电子元器件检测方法与经验
 • 如何识别常用元器件
 • TEKTRONIX推出15GHZ高速示波器
 • 嵌入式被动组件的试做与量产
 • DWG存DXF用CAM350读之误区
 • 无源光器件的偏振相关损耗测量
 • 关于PCB元器件布局检查规则
 • 多个叠层芯片封装技术
 • 巧焊电子元器件的接头
 • 电子元器件检测方法
 • 自动实现半导体器件系统强化测试的方法
 • 电路设计及EMC器件选择
 • 三星电子开发出高质量CMOS图像传感器芯片
 • 精密图形转移技术控制要点
 • 贴片机视觉系统构成原理及其视觉定位
Copyright © 2005-2008 555DZ.com 联系站长:55dz@163.com